公司拥有洁净度1000级的测试场地
，，，并拥有业内先进的仪器设备
，
，如
：Cascade 的高低温自动探针台、、PNA-X矢量网络分析仪、、信号源、、、频谱仪、、、噪声仪、、、
、半导体参数分析仪等仪器设备，
，，具备化合物半导体器件及芯片的直流测试能力和射频测试能力，
，，，可完成单颗有源及无源器件、、、、MMIC芯片以及整晶圆级的测试，，，，能进行质量一致性检验

　　直流方面可对无源及有源器件的各项直流指标进行测量，，其中电流测试可达到fA量级。。

　　射频方面，
，可对器件进行小信号S参数测试，，
，负载牵引测试、、、
、噪声测试
。
。。其中小信号S参数测试 频率可达67GHz;负载牵引测试频率可覆盖0.8-50GHz;噪声测试频率可覆盖8-50GHz。。对MMIC芯片可以 进行无源类芯片、、
、功率放大类芯片、、开关类芯片
、、混频类芯片以及多功能芯片的在片测试，，
，，频率最 高可达67GHz
。。

       对于整晶圆，，我们可根据器件或芯片种类进行不同直流特性及射频特性的自动化CP测试
，，从而对器件或芯片的各项性能指标进行筛选。。
。。